飞泰 卧式半自动磁粉探伤机 价格 CDX-I 磁粉探伤机器

卧式半自动磁粉探伤机 价格 CDX-I 磁粉探伤机
产品概述

◆  主要用于铁磁性材料表面及近表面探伤，交流电磁化方式。

◆  一台设备可以兼容A,D,E,O四种，满足客户多种类型工件的需求。

◆  输出电流大小可调，可适应不同灵敏度要求，交流磁化带断电相位控制，超负荷保护。

◆  采用外加磁场磁化法，体积小，重量轻，方便携带。

◆  采用新材料，新工艺，探伤速度快，灵敏度高，故障率低，并具有自动衰减退磁功能。
 产品广泛应用于航天、、铁道、机械、汽车、汽车、油田、锅炉、轴承、齿轮、摩托车、内燃机、柴油机、弹簧、标准件、造船等行业的无损检测领域。 

左、右电极箱分别安装在轨道上，由电机驱动进行两电极的间距调节和夹紧

 便携式磁粉探伤机型号、产品、功能系列
CDX-I AC/36V,DC/10V交直流磁化，可选配A、D、O型三种
CDX-II AC/36V*2,DC/10V交直流磁化，可选配A、D、E、O型四种
CDX-III AC/36V*2,交流磁化，可选配A、D、E、O型四种
CDX-IV AC/36V,DC/10V交直流磁化，可选配A、D、O型三种
CDX-V AC/36V*2,交流磁化，可选配A、D、E、O型四种，带电流调节和退磁功能
CEX-A AC/36V,DC/10V交直流磁化，可选配A、D、O型三种
CJE-1 AC/36V,交流磁化，可选配A、D、O型三种
CJX-A AC/36V,交流磁化，可选配A、D、O型三种
CJE-2 AC/36V,交流磁化，可选配A、D、O型三种
CJE-2A AC/36V,交流磁化，可选配A、D、O型三种
CXX-3B AC/36V*2,交流磁化，可选配A、D、E、O型四种
CJE-12/220 AC/220V,DC/12V交直流磁化，可直插220V市网电源，亦可使用12V电池供电，适用于野外操作
CEE-3508 AC/220V,DC/12V交直流磁化，可直插220V市网电源，亦可使用12V电池供电，适用于野外操作
CJE-220 AC/220V直插市网电源

十二、磁悬液的配制 水剂磁悬液的配制 荧光磁粉:2－3克/升水 分散剂：0.2% 检查液重量 防锈剂：0.5% 检查液重量 消泡剂：0.5－1克/升水 油剂磁悬液的配制 (应使用无味煤油，闪点≥96℃) 荧光磁粉：2－3克/升无味煤油 分散剂：0.2% 检查液重量 2．磁化电流的选择 周向磁化电流一般可以下式计算 连续法：I=8D～15D 剩磁法：I=20D～40D 式中 I－为电流值A D－试件直径或宽度（mm） 以上数值为参考值，实际工作数值应由灵敏度试片试验决定
 便携式磁粉探伤机种类介绍
A型 也称马蹄磁轭或角焊缝，活动关节斜面磁头,配有工作灯;对异形面、形状复杂工件探伤尤其适用.极距:20-160㎜;提升力:AC≥4.5㎏,DC≥18㎏;重量:2.0㎏。利用这种制成一台设备叫马蹄形磁轭探伤仪或角焊缝探伤仪，利用活关节使用范围广。
D型 也称电磁轭，多种活动关节，磁化强度大。极距：60-220㎜，提升力：AC≥5㎏，DC≥18㎏；重量：2.5㎏.独立利用这种制成的设备叫电磁轭探伤仪，具有导磁高、磁化强度大等特点。
E型 也称交叉磁轭或旋转磁场，可一次复合磁化探伤,行走滚轮和工作灯可提高探伤速度.极距:110㎜,提升力:AC≥12㎏,重量:3.0㎏.独立利用这种制成一台设备叫旋转磁场探伤仪，它利用两只交叉的磁轭采用交流电移相技术，使之产生随时间变化的合成旋转磁场，对工件一次复合磁化。探伤速度快、检测质量高。
O型（内径150mm） 也称环形，内径:150㎜,中心磁场≥180Oe.重量:2.5㎏.独立利用这种制成一台设备叫环形探伤仪，它是利用线圈通电时产生强磁场的原理设计的，适用于轴棒类、管道类、叶片类等复杂工件的分段探伤或退磁。
卧式半自动磁粉探伤机 价格 CDX-I 磁粉探伤机 设备所有原器件及原材料的购进，都是通过严格筛选和认证的，保证是正规厂家生产由调速电机作动力，驱动槽轮机构转动，实现转盘的六位相互转换。

 移动式磁粉探伤机型号、功能参数
CJD-1000 磁化电流：AC 0-1000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CJD-2000 磁化电流：AC 0-2000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CJD-3000 磁化电流：AC 0-3000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CJD-4000 磁化电流：AC 0-4000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CJD-5000 磁化电流：AC 0-5000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CJD-6000 磁化电流：AC 0-6000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CY-1000 磁化电流：AC 0-1000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化
CY-2000 磁化电流：AC 0-2000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化
CY-3000 磁化电流：AC 0-3000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化
CY-4000 磁化电流：AC 0-4000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化
CY-5000 磁化电流：AC 0-5000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化
CYD-6000 磁化电流：AC 0-6000A，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化
CED-1000 磁化电流：AC 0-1000A，DC 0-499A(半波)，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CED-2000 磁化电流：AC 0-2000A，DC 0-998A(半波),配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CED-3000 磁化电流：AC 0-3000A，DC 0-1497A(半波)，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CED-4000 磁化电流：AC 0-4000A，DC 0-1996A(半波)，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CED0 磁化电流：AC 0-5000A，DC 0-2495A(半波)，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
CED-6000 磁化电流：AC 0-6000A，DC 0-2994A(半波)，配刺棒及电缆，可用于触头法周向磁化和绕电缆法纵向磁化，磁粉粒度：80-400目
 大型固定式磁粉探伤机系列
CJW-1000 卧式磁粉探伤机
CJW-2000 卧式磁粉探伤机
CJW-2000 简配，卧式磁粉探伤机
CJW-3000 进口PLC控制，卧式半自动磁粉探伤机
CJW-4000 进口PLC控制，卧式半自动磁粉探伤机
CJW-6000 进口PLC控制，卧式半自动磁粉探伤机
CJW-9000 进口PLC控制，卧式半自动磁粉探伤机
CJW-10000 进口PLC控制，卧式半自动磁粉探伤机
CJW-12000 进口PLC控制，卧式半自动磁粉探伤机
CDG-1000 进口PLC控制，多功能卧式半自动荧光磁粉探伤机
CDG-2000 进口PLC控制，多功能卧式半自动荧光磁粉探伤机
CDG-2000 简配，卧式荧光磁粉探伤机
CDG-3000 进口PLC控制，多功能卧式半自动荧光磁粉探伤机
CDG-4000 进口PLC控制，多功能卧式半自动荧光磁粉探伤机
CDG-6000 进口PLC控制，多功能卧式半自动荧光磁粉探伤机
CDG-9000 进口PLC控制，多功能卧式半自动荧光磁粉探伤机
CDG-10000 进口PLC控制，多功能卧式半自动荧光磁粉探伤机
CDG-12000 进口PLC控制，多功能卧式半自动荧光磁粉探伤机
CEW-1000 进口PLC控制，卧式半自动交直流磁粉探伤机
CEW-2000 进口PLC控制，卧式半自动交直流磁粉探伤机
CEW-3000 进口PLC控制，卧式半自动交直流磁粉探伤机
CEW-4000 进口PLC控制，卧式半自动交直流磁粉探伤机
CEW-6000 进口PLC控制，卧式半自动交直流磁粉探伤机
 
CZQ-4000 三相全波低频退磁磁粉探伤机，进口PLC控制， 电流预设功能
CZQ-6000 三相全波低频退磁磁粉探伤机，进口PLC控制， 电流预设功能
CZQ-10000 三相全波低频退磁磁粉探伤机，进口PLC控制， 电流预设功能
CZQ-12000 三相全波低频退磁磁粉探伤机，进口PLC控制， 电流预设功能
CZQ-15000 三相全波低频退磁磁粉探伤机，进口PLC控制， 电流预设功能
SC100-8K手持式荧光探伤灯，SC-3W手持式便携式荧光灯
卧式半自动磁粉探伤机 价格 CDX-I 磁粉探伤机 十一、其他独特设计： 11.1、磁化电流采用真有效值电流表显示，并配置标准互感器，电流显示精度高、准确可靠； 11.2、设备具有欠流、过温等声光报警指示功能； 11.3、设备配置专用脚踏开关，自动时，设计为自动程序启动功能在工件中通过的电流，工件表面和近表面就会产生沿圆周方向的磁场，用于检测沿工件轴向缺陷；本机磁轭线圈产生的磁场，就会在工件中产生一个磁场就可检测工件的周向裂纹。当两种磁场同时施加于工件时，因周、纵向磁化电流具有一定的相位差，在工件表面可形成复合旋转磁场，可一次性发现表面近表面所有方向的缺陷。